亚洲精品影院一区二区-亚洲精品永久一区-亚洲精品中文一区不卡-亚洲精品中文字幕久久久久久-国产亚洲精品aaa大片-国产亚洲精品成人a在线

您好,歡迎光臨電子應(yīng)用網(wǎng)![登錄] [免費(fèi)注冊(cè)] 返回首頁(yè) | | 網(wǎng)站地圖 | 反饋 | 收藏
在應(yīng)用中實(shí)踐
在實(shí)踐中成長(zhǎng)
  • 應(yīng)用
  • 專題
  • 產(chǎn)品
  • 新聞
  • 展會(huì)
  • 活動(dòng)
  • 招聘
當(dāng)前位置:電子應(yīng)用網(wǎng) > 新聞中心 > 正文

KLA-TENCOR推出的新XP 升級(jí)將提供更強(qiáng)的靈敏度、產(chǎn)能、缺陷良率相關(guān)性

2009年07月01日10:47:01 本網(wǎng)站 我要評(píng)論(2)字號(hào):T | T | T
關(guān)鍵字:半導(dǎo)體 

專為半導(dǎo)體和相關(guān)產(chǎn)業(yè)提供工藝控制及良率管理解決方案的全球領(lǐng)先供應(yīng)商 KLA-Tencor 公司納斯達(dá)克股票代碼KLAC 28XX 寬頻明場(chǎng)檢測(cè)系統(tǒng)發(fā)布了一款新的升級(jí)包—— XP。XP 升級(jí)包是市面上第一款可為檢測(cè)系統(tǒng)提供標(biāo)準(zhǔn)集成電路設(shè)計(jì)布局文件(讓光罩車間能夠形成光罩圖案的指令)的產(chǎn)品。得到此信息后,檢測(cè)系統(tǒng)就能掌握電路內(nèi)的缺陷位置,以更好地估算其影響產(chǎn)品良率的概率。此外,XP 能夠利用與設(shè)計(jì)結(jié)合的晶片檢測(cè)結(jié)果識(shí)別在光刻時(shí)可能對(duì)工藝變化特別敏感的光罩上的特征。XP 升級(jí)包的這些及其它功能的設(shè)計(jì)旨在提升現(xiàn)有 28XX 檢測(cè)機(jī)臺(tái)的靈敏度與產(chǎn)能,并增加缺陷結(jié)果的信息內(nèi)容以有助于加快查找和解決缺陷問題。

KLA-Tencor 的晶片檢測(cè)事業(yè)群 (Wafer Inspection Group) 副總裁兼總經(jīng)理 Mike Kirk 博士表示:“在以消費(fèi)者為導(dǎo)向的市場(chǎng)中,芯片復(fù)雜度與價(jià)格壓力不斷增加,我們的客戶正在尋求便于進(jìn)行缺陷根源分析的工具,以提高產(chǎn)能實(shí)現(xiàn)更快和更有效的達(dá)到穩(wěn)定生產(chǎn)。如今,業(yè)界領(lǐng)先的晶片廠必須運(yùn)用讓 193nm 光刻能夠印制幾近十分之一光照波長(zhǎng)線寬的特征的先進(jìn)光刻技術(shù),目前這種線寬已經(jīng)可以用可數(shù)的原子來度量。在此環(huán)境下,即使是一片晶片上的較小缺陷或一個(gè)光罩上的處于臨界點(diǎn)的圖案也會(huì)產(chǎn)生巨大的良率影響。我們新的 XP 升級(jí)包能滿足我們客戶對(duì)優(yōu)化缺陷捕捉,以及從無關(guān)或雜訊缺陷的海洋中識(shí)別系統(tǒng)性缺陷和其它與良率相關(guān)的缺陷的需求,這代表了一個(gè)巨大的進(jìn)步。此外,XP 能夠以具有成本效益的方式提供這種有價(jià)值的能力:作為大多數(shù)領(lǐng)先晶片廠中已有檢測(cè)系統(tǒng)的一個(gè)升級(jí)。    

新的 XP 升級(jí)包內(nèi)含專為改善檢測(cè)結(jié)果或檢測(cè)機(jī)臺(tái)產(chǎn)能而設(shè)計(jì)的若干功能,其中包括

·         基于缺陷位置的電路圖案的密度,在檢測(cè)期間對(duì)良率相關(guān)缺陷的優(yōu)先捕捉;

·         利用電路設(shè)計(jì)信息并根據(jù)特定圖案組設(shè)置高度局部化的缺陷檢測(cè)閾值,對(duì)芯片內(nèi)所有關(guān)鍵區(qū)域的缺陷捕捉進(jìn)行優(yōu)化。

·         通過密切監(jiān)測(cè)具有較小工藝靈活度的圖案類型實(shí)現(xiàn)對(duì)臨界點(diǎn)光刻狀況的早期偵測(cè);以及

·         新工藝層或新裝置的衍生配方”(對(duì)檢測(cè)具有決定性影響的光學(xué)、機(jī)械和算法參數(shù)設(shè)置的線下生成。作為若干配方快速化的功能之一,此功能可大幅減少配方設(shè)置所需的時(shí)間和勞力,藉此提高檢測(cè)機(jī)臺(tái)的產(chǎn)能,并讓即使是對(duì)小批量或快速試制的芯片的配方優(yōu)化也切實(shí)可行。

XP 升級(jí)包是針對(duì)已被廣泛采用的 281x 282x 明場(chǎng)檢測(cè)系統(tǒng)的一項(xiàng)升級(jí)已出貨至多家晶片代工廠、內(nèi)存芯片與邏輯芯片生產(chǎn)廠家,且在 20 多篇技術(shù)論文中都有專門論述。

 

關(guān)于 KLA-Tencor 

KLA-Tencor 公司納斯達(dá)克股票代碼KLAC是工藝控制與良率管理解決方案的領(lǐng)先提供商,它與全球客戶合作開發(fā)先進(jìn)的檢測(cè)與度量技術(shù)。這些技術(shù)為半導(dǎo)體、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)、化合物半導(dǎo)體、光伏及其它相關(guān)納米電子行業(yè)提供服務(wù)。公司擁有廣泛的業(yè)界標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品系列及世界一流的工程師與科學(xué)家團(tuán)隊(duì),三十余年來為客戶努力打造優(yōu)秀的解決方案。KLA-Tencor 的總部設(shè)在美國(guó)加利福尼亞州米爾皮塔斯 (Milpitas),并在全球各地設(shè)有專屬的客戶運(yùn)營(yíng)與服務(wù)中心。如需更多信息,請(qǐng)?jiān)L問網(wǎng)站 www.kla-tencor.com(KLAC-P)

網(wǎng)友評(píng)論:已有2條評(píng)論 點(diǎn)擊查看
登錄 (請(qǐng)登錄發(fā)言,并遵守相關(guān)規(guī)定)
如果您對(duì)新聞?lì)l道有任何意見或建議,請(qǐng)到交流平臺(tái)反饋。【反饋意見】
關(guān)于我們 | 聯(lián)系我們 | 本站動(dòng)態(tài) | 廣告服務(wù) | 歡迎投稿 | 友情鏈接 | 法律聲明
Copyright (c) 2008-2025 01ea.com.All rights reserved.
電子應(yīng)用網(wǎng) 京ICP備12009123號(hào)-2 京公網(wǎng)安備110105003345號(hào)