首屈一指的半導體測試公司惠瑞捷半導體科技有限公司（NASDAQ: VRGY）日前針對晶圓測試和時下對成本較為敏感的集成電路和微控制器的成品測試推出了一款新型測試系統V101。V101滿足了這些芯片的超低成本要求，以及緩解了日益增長的上市時間壓力。

V101測試系統將于2009年7月14日-16日在美國加利福尼亞州舊金山市莫斯克尼會議中心舉行的SEMICON WEST展覽會上展出，惠瑞捷展臺號為921。

惠瑞捷副總裁暨ASTS事業部總經理魏津博士表示：“V101首次讓惠瑞捷成熟的測試技術專業知識惠及這一細分市場。這一成本敏感型市場要求測試方案以較低的測試成本提供較大的整體價值。有鑒于此，我們設計了一種自行安裝、自行診斷和自行維護的系統。”

V101測試系統擁有多達1024個輸入/輸出通道，數字時鐘頻率高達100 MHz，其性能保證可以經濟高效地測試目前對成本較為敏感的集成電路和微控制器，尤其是廣泛應用于低端移動通信和消費類產品。

V101擁有獨特的Tester-on-Board^TM架構，可直接在測試板上布置數字直流資源，從而簡化了測試儀硬件和配置。該架構支持高效率的多站點測試，數據吞吐量高，同時可降低測試成本，而標準化組件使得V101易于安裝和維護。

魏津補充說：“V101是一個簡單、經濟、易用的系統，可為客戶提供前所未有的價值。因此，尚未使用過惠瑞捷解決方案的客戶也開始對我們的產品感興趣，其中有需要測試多種芯片的客戶，還有專注于成本敏感型MCU市場的測試廠和制造商。”

Tester-on-Board架構

V101架構是直接在測試板上布置數字直流資源，實現了高性能與低成本的完美結合。這種架構還支持客戶根據自己的需求變化，輕松地擴大或降低V101的容量。

優化低成本微控制器測試

V101可經濟高效地測試4/8/16位MCU和其他低管腳數低端IC芯片。該數字儀器卡擁有8個DPS（設備電源），數字時鐘頻率高達100 MHz，深度的矢量內存（60M）和捕捉內存(8 M)滿足了芯片生命周期短以及改版快的要求，低噪音水平提高了精確度和產出。板載多功能直流測量單元避免了對單獨模擬卡的需求，支持嵌入式A/D轉換器的測試，從而降低了成本。

優化晶圓測試

V101是唯一為晶圓進行優化且支持直接探測的測試系統。利用該系統進行晶圓測試不需要單獨的pogo tower或昂貴的附加接口，極大地降低了成本。V101增強了晶圓測試的信號保真度并簡化了產品配置。

易于使用的軟件

V101的操作系統軟件使用了惠瑞捷成熟一流的Stylus^TM ，易學易用。Stylus支持直接EDA連接，縮短了程序開發時間。基于STIL的測試編程簡化了其他基于STIL的測試程序轉換，其與深度矢量和捕捉內存融合后可極大地縮短程序開發時間。

廣泛的應用

V101可廣泛地用于經濟高效地測試各種較低成本的集成電路器件。

·        4/8/16位MCU

·        顯示驅動控制器

·        外圍接口

·        通用ASIC

·        嵌入式內存

·        嵌入式模擬至數字轉換器

如欲了解與V101有關的更多信息，敬請訪問：www.verigy.com/go/v101。