美國吉時利儀器（Keithley Instruments）強化了半導體材料評測系統“4200-SCS”在太陽能電池方面的功能。具體包括：針對太陽能電池評估測定、；把采用交流電壓的C-V測定頻帶帶寬從原來的10k～10MHz提高至1k～10KHz的C-V測定模塊“4210-CVU”、用于連接主機與探針的通用纜線和測定模塊的插槽數為9個的新機箱等。原系統的插槽數為8個。

4200-SCS

　　開發軟件工具方面，除增強了程序庫之外，還增加了用于太陽能電池材料開發的DLCP（Driver Level Capacitance Profiling）功能。DLCP為在改變交流電壓的同時測定容量的試驗方法，可通過外加1k～10MHz的交流電壓，測定材料的缺陷密度等。除太陽能電池之外，還可用于液晶面板、有機EL、高亮度LED以及功率半導體等的材料開發。

　　連接主機與探針的纜線，可支持4200-SCS能夠測定的所有測定項目。以前，各項測定必需使用不同的纜線，因此，纜線的更換耗時耗力、或者導致測定誤差等現象，成為檢測工作的瓶頸。此次準備了可分別用于美國Cascade Microtech及德國蘇斯微技術（SUSS Micro Tec AG）探針的2種纜線。

　　KTEI Version 7.2方面，如果是原有的4200-SCS用戶，則可免費引進。4210-CVU的校準及機箱的更新為有償服務。主機的升級隨結構而不同，較高為180萬日元左右。4210-CVU為166萬4000日元，3軸纜線套件為平均每套操作裝置995美元。目前已開始接受訂貨。

　　對于半導體業界的狀況，公司市場營銷副總裁Mark Hoersten表示：“相對于半導體廠商總收入的設備投資比率，從陷入目前經濟危機之前的22～23％急劇下滑”。該公司認為目前這種情況對檢測儀器提出了新的需求。這是因為，隨著人員、產品開發期及產品壽命比以前減少，亟需靈活的、生產效率較高的檢測儀器。“通過采用此次推出的通用纜線這樣微不足道的選配部件，就能縮短測定時間。有助于提高測定效率”（Hoersten）。

美國Keithley公司市場營銷副總裁Mark Hoersten

　　吉時利表示，作為今后的市場，將關注“太陽能電池”“高亮度LED”“功率半導體”領域。其中較寄予期望的，是這些市場領域所必需的新材料開發�！澳壳�，在日本采用硅以外材料的太陽能電池開發進行得如火如荼”（Hoersten）。此外，內存方面，相變存儲器之類的新材料受到了關注。與閃存等相比，其數據保存時間較長，并且有望縮短寫入時間及提高記錄密度，目前以閃存廠商等為中心正在進行開發。“為了努力提高半導體元器件的性能，肯定需要開發新材料”（Hoersten），所以對于4200-SCS等檢測儀器，將通過面向多種用途增加功能以及進行軟件更新，以吸引隨新材料開發而產生的需求。