NI發(fā)布業(yè)界較高精度的PXI源測(cè)量單元 全新的低電流SMU提供了高達(dá)10 fA的電流靈敏度
新聞發(fā)布– 2016年7月11日–NI(美國(guó)國(guó)家儀器,National Instruments, 簡(jiǎn)稱NI) 作為致力于為工程師和科學(xué)家提供解決方案來應(yīng)對(duì)全球較嚴(yán)峻的工程挑戰(zhàn)的供應(yīng)商,近日宣布推出NI PXIe-4135源測(cè)量單元(SMU),其測(cè)量靈敏度達(dá)10 fA,輸出電壓高達(dá)200V。工程師可以使用NI PXIe-4135 SMU來測(cè)量低電流信號(hào),并利用NI PXI SMU的高通道密度、高速的測(cè)試吞吐率和靈活性來實(shí)現(xiàn)晶圓級(jí)參數(shù)測(cè)試、材料研究以及分析低電流傳感器和集成電路的特性等各種應(yīng)用。
“我們的順序參數(shù)測(cè)試需要采集數(shù)百萬(wàn)個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn),電流泄露通常在pA級(jí)。”IMEC研究人員Bart De Wachter博士表示, “在受益于PXI平臺(tái)提供的高速度和LabVIEW的系統(tǒng)編程靈活性的同時(shí),全新的NI PXI SMU可幫助我們精確地測(cè)量低電流信號(hào)。”
模塊化NI PXI SMU可幫助工程師來構(gòu)建緊湊型并行高通道數(shù)系統(tǒng),在單個(gè)PXI機(jī)箱中提供了高達(dá)68個(gè)SMU通道,而且可擴(kuò)展至數(shù)百個(gè)通道來滿足晶圓級(jí)可靠性和并行測(cè)試需求。此外,用戶還可利用高速通信總線、確定性硬件序列生成、以及使用數(shù)字控制回路技術(shù)對(duì)任意待測(cè)設(shè)備自定義調(diào)節(jié)SMU響應(yīng),從而提高測(cè)試吞吐量。 工程師還可以通過軟件控制SMU響應(yīng),避免了長(zhǎng)時(shí)間等待SMU穩(wěn)定,并可借助NI PXI SMU的靈活性來較小化過沖和振蕩,即使是在帶有高電容性的負(fù)載的情況下也是如此。
“半導(dǎo)體器件復(fù)雜性的增加要求我們重新思考傳統(tǒng)的研究、特性分析和晶片可靠性測(cè)量方法,而這一直是我們投資PXI SMU的關(guān)鍵動(dòng)力,”NI自動(dòng)化測(cè)試總監(jiān)Luke Schreier表示, “NI SMU降低了測(cè)量時(shí)間,提高了通道密度,而且現(xiàn)在更提供了更好的測(cè)量質(zhì)量和高達(dá)10 fA的靈敏度。”
NI PXI SMU不僅提供了臺(tái)式SMU的易用性,其交互式軟件前面板也可用于進(jìn)行基本的測(cè)量和調(diào)試自動(dòng)化應(yīng)用。 驅(qū)動(dòng)程序包含了幫助文件、文檔描述和可立即運(yùn)行的范例程序,可輔助測(cè)試代碼開發(fā),并包含了一個(gè)編程接口,可支持C、Microsoft .NET和LabVIEW系統(tǒng)設(shè)計(jì)軟件等各種開發(fā)環(huán)境。 工程師還可結(jié)合NI TestStand測(cè)試管理軟件使用NI PXI SMU,簡(jiǎn)化實(shí)驗(yàn)室或生產(chǎn)車間的測(cè)試系統(tǒng)開發(fā)和部署。
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從1976年開始,美國(guó)國(guó)家儀器 (www.ni.com) 一直致力于提供各種強(qiáng)大的基于平臺(tái)的系統(tǒng)來幫助工程師和科學(xué)家提高效率和加速創(chuàng)新,以解決全球面臨的重大工程挑戰(zhàn)。從醫(yī)療、汽車、消費(fèi)電子產(chǎn)品到粒子物理等各行各業(yè)的客戶正在使用NI的集成軟硬件平臺(tái)來改善我們生活的環(huán)境。
NI中國(guó)自1998年成立以來,不斷致力于以跨國(guó)公司的實(shí)力為本地用戶提供創(chuàng)新、高效的工具和解決方案。輻射全國(guó)的銷售、技術(shù)人員及系統(tǒng)聯(lián)盟商網(wǎng)絡(luò)則以為本地市場(chǎng)提供優(yōu)質(zhì)服務(wù)為己任,傾力滿足客戶要求。NI中國(guó)在線商城的推出進(jìn)一步完善了NI的服務(wù)體系,旨在為用戶提供更方便快捷的購(gòu)買體驗(yàn),即刻瀏覽:china.ni.com/howtobuy
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