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NI亮相2015年汽車測試及質量監控博覽會,全面展示車載測試系統平臺化解決方案

2015年09月22日16:55:38 本網站 我要評論(2)字號:T | T | T

美國國家儀器有限公司(National Instruments, 簡稱NI)于日前參加了在上海光大會展中心舉辦的2015年汽車測試及質量監控博覽會。在此次博覽會上,NI聯合多家業內合作伙伴,集中展示了NI為汽車行業提供的靈活開放式的測試平臺與多樣化的解決方案。

 

2015年是汽車測試及質量監控博覽會舉辦的第十個年頭,它已確立為向中國汽車工業展示確保質量、可靠性、耐久性和安全性的各種技術與服務的行業內頭號展會。會上逾280家公司展示了自己的新產品,具體領域包括:發動機/排氣測試;車輛動力學測試;材料測試以及碰撞測試等。NI也借助此次盛會向企業及大眾展示了NI在汽車行業的技術優勢與優質解決方案。

 

據了解,現今幾乎所有的汽車OEM與一級供應商在各類測試應用中均有使用或集成了NI產品。通過為控制、設計和測試提供通用平臺,NI 幫助用戶節省了在汽車研發到生產各個階段耗費的成本和時間。憑借業內領先的I/O、靈活現成的硬件、強大高效的LabVIEW開發環境,用戶可以創建適合各種應用的解決方案。目前NI的產品在汽車行業涉及了車載測試和數據記錄、硬件在環仿真、臺架測試與控制、快速控制原型、生產線測試、車載信息娛樂系統測試等幾大應用。

 

此次博覽會上,NI著重展示了其業內權威的硬件在環仿真(HIL)技術方面的應用。NI通過其創新的低成本模塊化硬件和軟件平臺幫助工程師和科學家設計并建立自己的HIL系統。硬件在環HIL仿真技術可以使用NI PXI實時控制器運行仿真模型來模擬受控對象的運行狀態,配合NI FPGA模塊可適應更高動態特性及更高精度的模型應用需求。NI硬件在環測試平臺具有開放的軟硬件技術架構,可以減少工程師的開發時間、成本和風險。在支持第三方硬件和軟件建模工具的同時,NI還提供一系列高性能模擬和數字I/O設備, CAN、LIN和FlexRay總線接口,故障注入硬件等硬件,讓客戶可以高效實現應用;陂_放的工業標準,用戶總能將較新的PC技術用在自己的HIL測試系統中。同時,HIL測試系統的可擴展性滿足了多種快速變化的需求,以適應新技術發展所帶來的測試挑戰,例如目前新能源汽車及ADAS等。

 

此次聯合參展的恒潤科技是NI業內眾多合作伙伴之一。他們開發的發動機控制器(EMS)硬件回路(HIL)測試系統便是基于靈活開放的NI軟硬件設備。EMS HIL測試系統搭建了一個完整的“虛擬車輛”測試環境,能夠在研發過程中對EMS進行驗證,并且利用NI TestStand軟件實現EMS的自動化測試。這套測試系統得益于NI硬件平臺的開放性與穩定性以及VeriStand、TestStand軟件系統的靈活性,縮短了產品開發周期,并在研發流程中可以對EMS的功能進行全面的測試和驗證。除此之外,該系統廣泛應用于汽車行業眾多整車廠、零部件商的車型和產品研發過程。

 

NI多年來在汽車領域一直致力于研發靈活、高性能的產品,其開放式平臺可以涵蓋從原型搭建到生產測試的整個流程。中國目前已經成為全球較大的汽車市場,同時對于國際主要的汽車電子產品供應商來說,中國也都是他們的主要研發生產基地。汽車行業已經成為NI中國的重要客戶市場之一。NI對中國的汽車電子行業市場充滿信心,會繼續針對業內用戶的需求和應用方向,提供更加完善和較具前沿技術的解決方案。

 

了解更多關于NI車載測試系統信息,請訪問下列網頁:http://www.ni.com/automotive/zhs/

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