安捷倫科技公司（NYSE：A）日前宣布：安捷倫與全球領先的半導體存儲器產品供應商――海力士半導體公司（Hynix Semiconductor Inc.）攜手推出一款高帶寬、高性能的長線 ZIF（零插入力）探針，該探針經過優化，適用于 DDR（雙數據速率）和 GDDR（圖形雙數據速率）SDRAM 的驗證測試。當距離探測信號較遠時，長線 ZIF 探針使工程師能夠對高速信號進行精確的測量。這些探針與安捷倫屢獲殊榮的 InfiniiMax 和 ZIF 探測系統結合使用，可提高每個焊接件的可用性并降低測試成本。

該探測選件解決了 DDR 設計中的一個基本難題：使工程師能夠在保持信號完整性的同時，對 DRAM 芯片上難以觸及的位置進行探測。隨著 DDR 和 GDDR SDRAM 器件的速度不斷提高，設計裕量變得越來越少，探測系統的性能也變得更加重要。長線 ZIF 探針解決了這個探測難題。

DDR 和 GDDR 驗證的另一個難題是根據 JEDEC 技術指標需要測試大量信號。長線 ZIF 探針使工程師能夠輕松地對 SDRAM 設備上需要探測的多個信號進行切換。

長線 ZIF 探針完全滿足對 DDR 存儲器設計進行全面一致性測試的需求。

海力士圖形存儲器應用部副總裁 Kun-Sang Yoon表示：“我們對原來的 Agilent ZIF 探針附件一直都非常滿意，但是我們希望有更長、更靈活的探針，以便能夠探測距離更遠的信號。安捷倫聽取了我們的反饋意見，并快速做出回應，為我們提供了令人滿意的探測解決方案。長線 ZIF 探針附件具有很高的信號完整性性能，使我們能夠精確測量高速信號。”

安捷倫科技副總裁兼示波器產品線部門總經理Scott Sampl表示：“安捷倫密切關注客戶的需求。我們的專家與海力士等業界領先廠商以及標準機構緊密合作，所以我們能夠迅速做出反應，及時進行改變，以提高測量效率和精度。從 BGA 探測技術到一致性應用軟件，我們都擁有合適的工具，可以幫助工程師快速驗證 DDR 和 GDDR 存儲器設計。”

如欲了解 Agilent N5451A InfiniiMax 差分長線 ZIF 探針的更多信息，敬請訪問：www.agilent.com/find/n5451a。

安捷倫全套示波器包括各種外形的、頻率范圍從 20 MHz 到 90 GHz 的示波器，具有業界領先的技術指標和功能強大的應用軟件。

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