亚洲精品影院一区二区-亚洲精品永久一区-亚洲精品中文一区不卡-亚洲精品中文字幕久久久久久-国产亚洲精品aaa大片-国产亚洲精品成人a在线

您好,歡迎光臨電子應(yīng)用網(wǎng)![登錄] [免費(fèi)注冊] 返回首頁 | | 網(wǎng)站地圖 | 反饋 | 收藏
在應(yīng)用中實(shí)踐
在實(shí)踐中成長
  • 應(yīng)用
  • 專題
  • 產(chǎn)品
  • 新聞
  • 展會
  • 活動
  • 招聘
當(dāng)前位置:電子應(yīng)用網(wǎng) > 新聞中心 > 正文

明導(dǎo):混合掃描測試解決方案的優(yōu)勢

2013年11月22日13:22:38 本網(wǎng)站 我要評論(2)字號:T | T | T

 

電子設(shè)計(jì)自動化技術(shù)的領(lǐng)導(dǎo)廠商 Mentor Graphics近日發(fā)布一份題為《混合掃描測試解決方案的優(yōu)勢》的研究報(bào)告。中文版的報(bào)告全文可在 Mentor Graphics 的官方網(wǎng)站閱讀和下載:[http://mentorg.com.cn/aboutus/view.php?id=226 ]。


本文作者:Ron Press 
本文作者:Ron Press

 

一、背景

掃描測試是測試集成電路的標(biāo)準(zhǔn)方法。絕大部分集成電路生產(chǎn)測試是基于利用掃描邏輯的 ATPG(自動測試向量生成)。掃描 ATPG特點(diǎn)是結(jié)果的可預(yù)測性高并且效果不錯。它還能實(shí)現(xiàn)精確的缺陷診斷,有助于進(jìn)行分析并改進(jìn)。隨著集成電路尺寸的增長并且制造工藝的規(guī)模越來越小,嵌入式壓縮被加入了掃描DFT(可測性設(shè)計(jì))邏輯,從而將 測試時間 縮短了多個數(shù)量級。但是,當(dāng)很少有或沒有可用的測試儀界面時,內(nèi)置自我測試 (BIST) 十分有必要。但越來越多的集成電路會同時需要這兩種不同類型的測試。嵌入式壓縮和邏輯內(nèi)置自我測試使用了類似的邏輯方法,因此通過在混合測試解決方案中共享壓縮和內(nèi)置自我測試邏輯來節(jié)省 DFT 邏輯面積就變得十分合理。

 

二、混合測試方法的優(yōu)勢

有了混合測試方法,你就能選擇從測試儀中提供嵌入式壓縮 ATPG 向量或在設(shè)備邏輯內(nèi)置自我測試中自動應(yīng)用和分析向量。你可以憑借在一個或多個區(qū)段中(圖1)的中央控制器和共享壓縮解碼器/ LFSR 和壓縮器/MISR 邏輯按照從上到下的流程插入混合邏輯。你也可以按照從下到上的流程插入混合邏輯,使你能夠在每個區(qū)段完成邏輯插入,包括包裝器 (Wrapper) 隔離鏈。擁有混合測試邏輯的區(qū)段能夠用于任何一種集成電路中并且邏輯內(nèi)置自我測試或區(qū)塊嵌入式壓縮向量能夠被直接重復(fù)使用。即插即用邏輯和向量方法在頂級集成電路中節(jié)省了大量的 ATPG 時間。


圖1. 混合測試解決方案,壓縮(嵌入式?jīng)Q定性測試)和邏輯內(nèi)置自我測試共享大部分解碼器/ LFSR 和壓縮器 /MSIR 邏輯 

混合測試解決方案,壓縮(嵌入式?jīng)Q定性測試)和邏輯內(nèi)置自我測試共享大部分解碼器/ LFSR 和壓縮器 /MSIR 邏輯

嵌入式壓縮 ATPG 為混合解決方案中的邏輯內(nèi)置自我測試帶來了優(yōu)勢。由于嵌入式壓縮 ATPG 擁有出色的生產(chǎn)缺陷檢測功能,邏輯內(nèi)置自我測試就不需要擁有強(qiáng)大的缺陷檢測能力。因此,隨機(jī)向量抵抗邏輯所需的測試點(diǎn)相應(yīng)要少,從而大大減少邏輯內(nèi)置自我測試面積。嵌入式壓縮的另一個優(yōu)勢就是低功耗測試。混合測試方法利用低功耗移位邏輯,因此用戶能夠在 ATPG 或內(nèi)置自我測試中選擇切換活動。

 

同樣地,混合方法中的邏輯內(nèi)置自我測試為嵌入式壓縮 ATPG 帶來了優(yōu)勢。邏輯內(nèi)置自我測試為去除未知狀態(tài)而使用的 X-bounding 對于在 MISR 內(nèi)生成可預(yù)測的信號十分必要。它還能加強(qiáng) ATPG 電路的可測性,尤其是在增加更多測試點(diǎn)的情況下。因此,混合方法中的邏輯內(nèi)置自我測試基礎(chǔ)架構(gòu)能夠使嵌入式壓縮 ATPG 擁有更高覆蓋和更少向量。

 

三、研究報(bào)告總結(jié)

以上就是混合測試方法吸引邏輯內(nèi)置自我測試用戶的所有理由。有了這種方法,老化不再需要測試儀來應(yīng)用 ATPG 向量,因?yàn)橛脩裟軌蚴褂眠壿媰?nèi)置自我測試,并且整體 ATPG 壓縮和向量數(shù)目能夠得到改進(jìn)。

 

作者簡介

Ron Press 是明導(dǎo)硅測試解決方案產(chǎn)品的技術(shù)營銷經(jīng)理。他在測試和 DFT(可測性設(shè)計(jì))行業(yè)有著25年的經(jīng)驗(yàn),曾多次出席全球各地的 DFT 和測試研討會。他出版了數(shù)十篇與測試相關(guān)的論文,是國際測試會議 (ITC) 指導(dǎo)委員會的成員、IEEE 計(jì)算機(jī)學(xué)會 (IEEE Computer Society) 的 Golden Core 成員以及 IEEE 的高級會員。Press 擁有多項(xiàng)減少引腳數(shù)測試和無干擾時鐘切換的專利。

 

關(guān)于 Mentor Graphics

Mentor Graphics 集團(tuán)(納斯達(dá)克代碼:MENT)是電子硬件和軟件設(shè)計(jì)解決方案的全球領(lǐng)導(dǎo)者,為世界上較成功的電子和半導(dǎo)體公司提供優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品、咨詢服務(wù)和支持,所提供的支 持曾多次獲獎。公司成立于1981年,在過去的12個月中實(shí)現(xiàn)營業(yè)收入約10.15億美元。公司總部地址:8005 S.W. Boeckman Road, Wilsonville, Oregon 97070-7777(美國俄勒岡州)。官方網(wǎng)站:http://www.mentor.com 。欲了解有關(guān)Mentor Graphics汽車解決方案的更多信息,請?jiān)L問 http://automotive.cn.mentor.com 或發(fā)送電郵至auto_china@mentor.com 。

網(wǎng)友評論:已有2條評論 點(diǎn)擊查看
登錄 (請登錄發(fā)言,并遵守相關(guān)規(guī)定)
如果您對新聞頻道有任何意見或建議,請到交流平臺反饋。【反饋意見】
關(guān)于我們 | 聯(lián)系我們 | 本站動態(tài) | 廣告服務(wù) | 歡迎投稿 | 友情鏈接 | 法律聲明
Copyright (c) 2008-2025 01ea.com.All rights reserved.
電子應(yīng)用網(wǎng) 京ICP備12009123號-2 京公網(wǎng)安備110105003345號