泰克為PCI Express 3.0測試解決方案增添新功能

邏輯協議分析儀的增強功能，包括創新的鳥瞰圖，可加快PCIe調試、分析速度

全球領先的測試、測量和監測儀器提供商---泰克公司日前宣布，TLA7SA08 和 TLA7SA16 邏輯協議分析儀模塊新增了軟件功能，支持下一代PCIe規范，即PCI Express 3.0規范。新的功能包括創新的鳥瞰圖（BEV），幫助工程師洞察和分析復雜的流控制問題，并且只需一鍵式校準和自動配置，從而使PCIe系統調試和分析變得更迅速，更容易。

PCIe 3.0規范支持兩倍于上代規范的數據率和更高的I/O帶寬，給物理層和協議層帶來了新的復雜性和測試挑戰。而且，PCIe適用于廣泛的應用，這給測試儀器跟蹤動態鏈路寬度變化、動態速度變化、通道（lane）排序、極性變化和多個省電模式等特征帶來了壓力。憑借這些新功能，泰克邏輯協議分析儀有助于工程師與PCIe 3.0規范保持與時俱進，并高效地將產品推向市場。

泰克公司數字分析產品線總監Dave Farrell表示：“新版本的PCIe邏輯協議分析儀軟件，向客戶提供了市場上獨有的強大工具來隔離和調試PCIe流控制問題，并加快可執行信息的存取速度。泰克邏輯協議分析儀為調試和驗證工程師提供了智能的分析功能。”

新功能包括：

·         鳥瞰圖（BEV）提供全新的信息可視化方式，以便快速分析PCI Express流控制問題，這些問題可能是較具挑戰性的一些調試問題。在這之前，協議工具只能提供已解碼分組數據的視圖。事務窗口（Transaction Window）是泰克邏輯協議分析儀上的一個創新窗口，提供數據包和事務層面（間或有物理層活動）的協議行為視圖。鳥瞰圖是泰克公司的一個創新，其完全集成于事務窗口之內，提供整個采集的高級視圖。當在鳥瞰圖窗口中看到潛在問題時，用戶可使用鳥瞰圖快速導航至可疑數據，并通過查看事務窗口中的對應數據，立即識別和隔離導致問題的根本事件。這項全新的分析功能在業內沒有競爭對手可以與之相比。

·         一鍵式校準結合使用邏輯協議分析儀的采集硬件和觸發功能來全面測試數以百計甚至數以千計可能的儀器設置，來自動確定較佳設置，確保儀器采集數據時沒有比特錯誤。

·         PCIe“個性化”（Personalization）功能有助于用戶縮短設置時間并迅速開始調試他們的設計。該軟件會自動檢測TLA7SAxx模塊，并彈出PCI Express協議分析儀設置屏幕，并開始“自動配置”過程。配置完成后，用戶即可開始采集數據和查看“列表”和“事務”窗口（在采集期間自動打開）中的信息。PCIe“個性化”可確保軟件在正確的時間顯示正確的信息，以便在建立測試系統的數分鐘內快速實現采集數據的可視化。

·         自動配置功能根據PCIe鏈路特征自動配置邏輯協議分析儀的工作參數，如鏈路速度、通道排序和通道極性。設置窗口與校準細節表相結合，以近實時方式提供有關被測系統工作條件的關鍵指標，這些信息可在單一、易于使用的屏幕中查看，甚至在完成采集之前。

Visual Network Systems的主管工程師William Winston提前使用了這個新解決方案來協助他應對系統調試挑戰：“我能非常迅速地將我的系統連接至泰克邏輯協議分析儀，并開始進行有意義的測試。在較短的時間內，我就能夠識別我的系統中的問題，而且更重要的是能夠排除其他潛在問題。”

推出于2010年4月，并獲得2011年《測試與測量世界》“較佳測試產品獎”（Best in Test Award）的TLA7SAxx模塊為PCI Express 1.0/2.0/3.0規范提供了全面的測試解決方案。有了這些新特點，用戶現在能夠使用TLA7SAxx模塊上的增強型PCIe調試和驗證功能。該解決方案包括8或16通道邏輯協議分析儀模塊、總線支持軟件、插槽界接探測器（Slot Interposer）、Midbus 探頭以及專用solder-down探頭，為PCIe開發者提供關于系統行為的強大時間相關視圖，從協議分析開始一直到物理層，以幫助查找棘手問題的根本原因。

上市時間

TLA7SA08和TLA7SA16邏輯協議分析儀模塊及支持軟件現已面向全球發售。

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關于泰克公司

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