使用PXI模塊化儀器完成超低功耗ASIC設計的結構和內存測試

2012年08月13日13:29:31 本網站我要評論(2)字號：T | T | T

PXI Express測試儀器與實驗芯片相連接的測試平臺

我們在對一個新的存儲芯片設計進行實驗時，使用PXI-4071測量和記錄在內存寫（第一個傾斜）和內存讀（第二個傾斜）操作時的µA級電流

這是主要的結構測試程序。包含二進制測試和仿真向量的多個.csv文件可以被加載并按順序輸出。應用程序也可以指出仿真數據與實際采集的數字數據之間的可能誤差

芯片上的無線系統

"我們已使用PXI Express自動測試系統完成多個項目，并獲得非常滿意的效果。自動測試系統大大減少了芯片測試的時間，而其快速、準確的直流測試更是實驗室的寶貴財富。"

- Mario Konijnenburg, Holst Centre/imec

The Challenge:
創建靈活的測試系統用于自動驗證和表征新的超低功耗半導體芯片設計。

The Solution:
使用NI LabVIEW軟件和NI PXI Express高速數字I/O設備開發自動測試系統，前者讀取測試向量，后者產生和接收數字數據，并同時以很高的精度測量芯片設計的直流損耗。

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