USB 3.0實(shí)測(cè)評(píng)鑒與報(bào)告:快速領(lǐng)略問(wèn)題癥結(jié)與解決方案
根據(jù)市調(diào)機(jī)構(gòu)In-Stat年初所公布的報(bào)告指出,USB 3.0的外圍應(yīng)用出貨量在2011年大約為7000萬(wàn)部,到了2014年將蓬勃發(fā)展并飆破10億部。同時(shí)他們也預(yù)估在2015年時(shí),筆記本電腦將成為USB 3.0接口的較大載具,屆時(shí)將約有50億個(gè)外圍應(yīng)用可搭載不同形式的USB接口,包含電腦、手機(jī)、主機(jī)外殼、消費(fèi)性電子以及影音多媒體等產(chǎn)品。換言之,隨著消費(fèi)性電子產(chǎn)品的功能特性不斷升級(jí),市場(chǎng)規(guī)模也隨之起舞與擴(kuò)張,越來(lái)越多應(yīng)用都需要高帶寬的傳輸速度來(lái)滿足消費(fèi)者的使用情境與體驗(yàn),而USB 3.0即是目前所提出的較佳解決方案之一。除了數(shù)據(jù)傳輸速度比USB 2.0快上10倍外,更向下兼容目前已廣泛被使用的傳統(tǒng)USB產(chǎn)品,進(jìn)階后的電源管理系統(tǒng)不但能提高80%的供電率以提升充電效能外,更能以低功耗的狀態(tài)執(zhí)行作業(yè)以延長(zhǎng)電池的使用時(shí)間。In-Stat更指出,Intel推出的Ivy Bridge處理器將首次內(nèi)建并原生支持USB 3.0功能,再搭配Microsoft新一代操作系統(tǒng)Windows 8的推出,將成為普及USB 3.0的一大動(dòng)力,也意味著USB 3.0未來(lái)全面滲透市場(chǎng)的無(wú)限可能。
不可否認(rèn)地,USB技術(shù)已然成為鏈接個(gè)人電腦/手機(jī)與外部設(shè)備的規(guī)范標(biāo)準(zhǔn)。為了滿足不斷成長(zhǎng)的數(shù)據(jù)帶寬傳輸速度與需求,USB-IF在2008年正式公布了USB 3.0的技術(shù)規(guī)格,同時(shí)也帶來(lái)新的設(shè)計(jì)/測(cè)試的挑戰(zhàn);在經(jīng)過(guò)4年時(shí)間的市場(chǎng)探索與技術(shù)磨合,越來(lái)越多支持USB3.0產(chǎn)品上市,大家都期許能有更高速、更節(jié)能的USB產(chǎn)品。而為了達(dá)成這項(xiàng)技術(shù)規(guī)格的質(zhì)量穩(wěn)定與效能保障,從促進(jìn)規(guī)范的標(biāo)準(zhǔn)化入手,建立一套完整的測(cè)試解決方案絕對(duì)是各家廠商在驗(yàn)證或推出USB 3.0應(yīng)用產(chǎn)品的必經(jīng)之路。因此,百佳泰特別針對(duì)在實(shí)際驗(yàn)證USB 3.0兼容性測(cè)試時(shí),比較常遇到的問(wèn)題跟分析做一些分享,希望可以提供廠商在開(kāi)發(fā)產(chǎn)品時(shí)一個(gè)參考準(zhǔn)則。
USB 3.0的兼容性測(cè)試主要分為兩個(gè)類別,裝置端(device)與主機(jī)端(host)。在裝置端的部分,必須通過(guò)「互操作性測(cè)試」(xHCI Interoperability test)的檢驗(yàn),其主要是針對(duì)所有USB 3.0的產(chǎn)品架構(gòu)所作的裝置互操作性測(cè)試,讓各種USB 3.0產(chǎn)品能與其他裝置有效地互通并協(xié)同運(yùn)作,不會(huì)因?yàn)檐、硬件版本的不同而失效。在主機(jī)端部分,除了作互操作性測(cè)試外,還得進(jìn)行另一項(xiàng)名為「向后兼容測(cè)試」(xHCI Backwards compatibility test)的驗(yàn)證,其測(cè)試標(biāo)的除了整個(gè)USB產(chǎn)品架構(gòu)外,xHCI controller還必須與現(xiàn)不同的USB產(chǎn)品(known good device)作測(cè)試,以確保不同的USB產(chǎn)品在這個(gè)主機(jī)端上能夠正常的運(yùn)作。我們可以發(fā)現(xiàn),USB 3.0的推出除了代表速度與效能的技術(shù)提升外,為了確保與前代技術(shù)與裝置的兼容性,類似的互操作性與向后兼容測(cè)試勢(shì)必非常重要,才能讓原本的USB技術(shù)維持零落差的技術(shù)條件與使用情境。與USB 2.0測(cè)試不同的是,某些測(cè)試上的問(wèn)題肇因是單單發(fā)生在USB 3.0測(cè)試當(dāng)中,這也意味著即使USB 2.0已高普及化,但在實(shí)際驗(yàn)證USB 3.0時(shí)還是會(huì)遇到許多新的難題,值得廠商與我們?nèi)ヒ灰豢朔鸵呻y解答。
問(wèn)題分享一:較低SSC延展幅度不符合規(guī)范(±300 PPM)。
在Electrical Test的部分,由于USB 3.0的傳輸速率高于USB 2.0有十倍之多, EMI(Electromagnetic interference)的影響也相對(duì)嚴(yán)重;因此,在USB 3.0的規(guī)范中加入了SSC(Space Spectrum Clock)技術(shù)規(guī)范,其目的即是透過(guò)SSC來(lái)降低EMI所帶來(lái)的效應(yīng),以確保USB 3.0的訊號(hào)質(zhì)量不會(huì)受到影響。在USB 2.0時(shí)期,由于屬較低的傳輸速率,受到EMI的干擾也較輕,因而未將SSC技術(shù)納入規(guī)范;然而,隨著USB 3.0的高速傳輸能力上升,間接地越容易受到EMI的干擾。因此,在USB 3.0的測(cè)試規(guī)范中,也特別去測(cè)試其SSC此技術(shù)來(lái)驗(yàn)證電子訊號(hào)的質(zhì)量。
根據(jù)SSC技術(shù)規(guī)范的標(biāo)準(zhǔn)指出,其量測(cè)出的triangle訊號(hào)圖,其上下展幅為: ±300 ppm(Min);-3700 ~ -5300 ppm(Max)。我們可以從圖一的案例發(fā)現(xiàn),其較低的展幅為333 ppm,并不在正常規(guī)范內(nèi)。緊接著,我們著手進(jìn)行疑難解答的動(dòng)作,發(fā)現(xiàn)在這個(gè)情境中的問(wèn)題肇因即為不正確的負(fù)載電容振蕩電路的輸出頻率偏移,進(jìn)而造成SSC展幅偏移。因此,透過(guò)改變負(fù)載電容來(lái)調(diào)整輸出頻率,從16pF調(diào)成20pF(表一),其較低的展頻幅度為204 ppm(圖二),已符合SSC技術(shù)規(guī)范要求。換言之,其問(wèn)題肇因即是晶體振蕩電路的電容負(fù)載值。
問(wèn)題分享二:LFPS低頻周期信號(hào)的振幅不符合規(guī)范(800 mV<= X <=1.200mV)。
在驗(yàn)證USB 3.0的過(guò)程中,另一項(xiàng)重要的測(cè)試LFPS(Low Frequency Periodic Signaling)信號(hào),目的為驗(yàn)證LFPS在經(jīng)過(guò)一定的傳輸信號(hào)長(zhǎng)度后,其衰減值是否仍在規(guī)范之內(nèi),以確保USB 3.0的傳輸速度與質(zhì)量。
首先,根據(jù)USB 3.0的規(guī)范指出,其LFPS差分訊號(hào)的正常范圍應(yīng)屬800 mV至1200mV之間。在測(cè)試我們選用的USB3.0產(chǎn)品時(shí)發(fā)現(xiàn),其差分訊號(hào)測(cè)得604.4mV,并不符合協(xié)會(huì)規(guī)范。因此,我們從訊號(hào)的衰減因素著手進(jìn)行解決方案,發(fā)現(xiàn)原因是由訊號(hào)復(fù)元組件也就是Repeater(Redriver)所造成,現(xiàn)今許多裝置為了方便消費(fèi)者使用,外嵌許多USB接口,但不是每個(gè)接口都直接建置在主機(jī)版上,為了讓更多的USB接口可以延伸到各個(gè)位置,需要透過(guò)額外加的Cable來(lái)延長(zhǎng),這時(shí)訊號(hào)的傳遞就可能受到Chip與接口傳輸距離過(guò)長(zhǎng)造成訊號(hào)質(zhì)量嚴(yán)重衰減。此時(shí)透過(guò)Repeater可讓原始訊號(hào)在經(jīng)過(guò)延長(zhǎng)后的傳輸距離后作一個(gè)重整與還原的動(dòng)作,使訊號(hào)維持一定的強(qiáng)度。但Repeater的參數(shù)(EX: Gain)若調(diào)整不正確,將會(huì)造成錯(cuò)誤的行為及振幅,而在我們重新更換過(guò)Repeater之后,立即發(fā)現(xiàn)如圖四的結(jié)果,其差分訊號(hào)下降至1080.4mV并符合協(xié)會(huì)規(guī)范。
這項(xiàng)問(wèn)題肇因即可說(shuō)明,如果USB 3.0主機(jī)芯片和連接器之間的距離太長(zhǎng),就會(huì)出現(xiàn)訊號(hào)幅度明顯衰減的狀況。若為了改善此情況而加入Repeater,其參數(shù)必須調(diào)整至一個(gè)較適當(dāng)?shù)闹怠epeater所重整還原出來(lái)的訊號(hào)不一定符合系統(tǒng)或規(guī)范要求,有時(shí)候訊號(hào)經(jīng)過(guò)Repeater的重整還原之后,雖然訊號(hào)強(qiáng)度得到了補(bǔ)償;但因參數(shù)調(diào)整不正確,使其訊號(hào)振幅過(guò)大超出規(guī)范,所以Repeater的使用需要經(jīng)過(guò)精密的設(shè)定與驗(yàn)證,才能得到較正線的傳輸訊號(hào)的穩(wěn)定質(zhì)量。
問(wèn)題分享三:從hybrid sleep恢復(fù)后,系統(tǒng)會(huì)發(fā)生重置動(dòng)作或USB裝置無(wú)法續(xù)傳。
不同于前兩項(xiàng)屬于electrical或硬件端的問(wèn)題,我們觀察到也有因?yàn)檐浖O(shè)定而導(dǎo)致測(cè)試失敗。這次我們用USB協(xié)會(huì)定義使用的三項(xiàng)USB產(chǎn)品(known good device)來(lái)作主機(jī)軟件端的兼容性測(cè)試時(shí)發(fā)現(xiàn),其中一項(xiàng)產(chǎn)品在從睡眠模式(hybrid sleep)中恢復(fù)后,會(huì)產(chǎn)生系統(tǒng)reset或USB傳輸中斷的狀況。根據(jù)協(xié)會(huì)規(guī)范,當(dāng)USB正在傳輸檔案時(shí),即使進(jìn)入睡眠模式后再重新啟動(dòng),應(yīng)要做續(xù)傳的動(dòng)作,如果發(fā)生停止或reset的狀況即為測(cè)試失敗。
因此,我們從這個(gè)問(wèn)題肇因可以發(fā)現(xiàn)USB傳輸效能與系統(tǒng)供電的關(guān)聯(lián)性。其他兩項(xiàng)USB產(chǎn)品皆是屬于Self -Power的產(chǎn)品,因此在系統(tǒng)進(jìn)入hybrid sleep后在重新復(fù)蘇啟動(dòng)OS時(shí),由于產(chǎn)品自我供電的特性,使產(chǎn)品不會(huì)因?yàn)樗B接的Host中斷V_BUS供電而在回到操作系統(tǒng)時(shí)做reset的動(dòng)作,使原本的傳輸中斷。反之,在這個(gè)測(cè)試出現(xiàn)失敗的產(chǎn)品中,因?yàn)槭菍貰us-Power產(chǎn)品,其供電接來(lái)自于所連接的Host,因此從hybrid sleep蘇醒時(shí),其產(chǎn)品會(huì)因Host供應(yīng)的V_BUS不足(或中斷)導(dǎo)致來(lái)不及在回到操作系統(tǒng)前完成resume的動(dòng)作,造成reset或中斷傳輸?shù)膭?dòng)作;旧希覀兺茰y(cè)其為產(chǎn)品BIOS的問(wèn)題,因此在我們更換過(guò)產(chǎn)品的BIOS后,即可解決此供電狀況的問(wèn)題(如圖五和圖六)。特別的是,我們發(fā)現(xiàn)現(xiàn)今許多USB產(chǎn)品為了主打省電的功能,各家的BIOS都不盡相同;但為符合協(xié)會(huì)規(guī)范,其較低要求是系統(tǒng)從hybrid sleep的狀態(tài)恢復(fù)時(shí),至少要能來(lái)得及反應(yīng)并啟動(dòng)OS,才不會(huì)造成其他裝置動(dòng)作出現(xiàn)中斷或系統(tǒng)發(fā)生reset的情況。
問(wèn)題分析四:USB 3.0兼容性測(cè)試時(shí)較常遇到的問(wèn)題之一,韌體不兼容造成藍(lán)屏(BOSD,Blue Screen of Death)狀況。
在了解整個(gè)問(wèn)題肇因前,我們得先知道在作USB 3.0測(cè)試時(shí),必須手動(dòng)開(kāi)啟「Driver Verifier」此指令,目的為讓這個(gè)指令去監(jiān)視所有g(shù)old tree上裝置的運(yùn)作狀態(tài),這也是協(xié)會(huì)規(guī)范所指定的動(dòng)作之一。再者,我們?cè)谧鱑SB 3.0兼容性測(cè)試時(shí),只要出現(xiàn)藍(lán)屏(BSOD)便會(huì)判定為測(cè)試失敗。根據(jù)上述,這個(gè)階段的問(wèn)題肇因即是發(fā)生在當(dāng)待測(cè)物裝置在某廠商
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