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泛華測控赴美參展 助力NI Week

2010年08月03日17:19:10 本網站 我要評論(2)字號:T | T | T
關鍵字:應用 傳感器 泛華測控 

第16屆全球虛擬儀器技術盛會——NI Week將于美國當地時間8月3日在德州的奧斯汀市盛大開幕。預計全球將有超過3000余名工程師、科學家及相關學術人員參會。作為NI公司在中國的多年合作伙伴——北京中科泛華測控技術有限公司(簡稱:泛華測控)將參加此次盛會,并將展示其基于NI虛擬儀器技術應用的部分解決方案及產品,展品主要為LECT-1101、PXI一體化機箱和VAS-HJ專用振動測試分析儀。

作為泛華測控今年的主推產品,LECT(Laboratory Education courseware experT)-1101是一套應用于高校實驗教學的即插即用的課件系統。它是基于NI ELVIS開發平臺,結合Labview程序,并根據中國高校自控專業較典型的10個實驗設計開發而成。

PXI一體化機箱則是一款應用于外場實驗設備的系統級產品。小機箱便于攜帶,配合相應功能PXI板卡,能應用于各種現場數據采集、分析及實驗研究。

而VAS-HJ專用振動測試分析儀是一款對振動信號的波形分析及參數測試監控的智能檢測和測試系統,同時,其還具有可為傳感器提供恒流激勵等多種功能。

在今后三天的會議中,泛華測控還將與來自世界各地的專家學者、NI用戶、代理商、系統聯盟商就虛擬儀器技術進行深入的探討與交流。


lect-1101


振動分析儀


PXI一體化機箱

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