與Tektronix合作開發的12.5GS/s數字化儀，提供3GHz和5GHz兩種帶寬選擇，進一步擴展數字化儀在自動化測試應用中的性能

美國國家儀器公司（National Instruments，簡稱NI）今天推出業內帶寬較高的PXI數字化儀，擴展了 PXI數字化儀產品的性能。NI與全球示波器領導者泰克公司共同研發，成功實現了具有5 GHz帶寬和12.5 GS/s采樣率的 NI PXIe-5186以及3 GHz帶寬和12.5 GS/s采樣率的NI PXIe-5185兩款全新數字化儀。作為NI基于PXI平臺的軟硬件平臺的組成部分，這兩款數字化儀為自動化測試應用提供了更優異的性能。

 “全新PXI數字化儀結合了泰克在高速數字化儀前端設計方面的優勢和NI在軟件定義的模塊化儀器領域的優勢，我們很高興能夠與泰克共同開發新產品，”NI CEO James Truchard博士說，“這些數字化儀進一步體現了摩爾定律對測試應用的影響，使PXI模塊化儀器在保持體積優勢的同時不斷達到更高性能。”

全新數字化儀中的泰克專利ASIC芯片是進行高速信號采集的基礎，具有低噪聲、高線性度等特點，并且基于高可靠性的IBM 7HP SiGe技術實現。泰克的Enabling Technology技術保證了極佳的信號保真度，并可實現超低抖動特性。極低的500飛秒(RMS)抖動確保了5GHz時的有效位數（ENOB）可達5.5比特。NI專利技術為全新數字化儀提供高數據吞吐量，可實現更快的測試速度，利用領先的多模塊定時與同步技術可進一步創建高通道數的集成測試系統。該數字化儀適用于3U PXI Express平臺，能夠以700 MB/s的速率進行高速數據傳輸，并且多個模塊間的通道同步精度可達160ps。這些功能使全新數字化儀成為自動化生產測試、半導體ATE和高能物理測量系統等應用的理想之選。

 “作為全球示波器的領先廠商，泰克公司致力于提供滿足各類用戶需求的技術，包括針對使用模塊化儀器進行自動化生產測試的用戶，”泰克公司首席技術官Kevin Ilcisin說，“這一產品讓客戶同時享受到泰克公司行業領先的信號采集技術以及儀器自動化行業領導者、PXI標準制定廠商NI公司卓越的儀器控制技術的優勢。”

全新數字化儀可結合NI LabVIEW圖形化系統設計軟件，進行儀器控制與自動化應用；同時也可利用NI LabWindows™/CVI ANSI C軟件開發環境或Microsoft Visual Studio .NET開發工具，使用各種語言進行編程。工程師可以使用NI-SCOPE儀器驅動以及全新LabVIEW抖動分析工具包加速開發。LabVIEW抖動分析工具包提供了豐富的函數庫，可用于抖動、眼圖和相位噪聲等測量。讀者可訪問 www.ni.com/digitizers/zhs，了解關于全新數字化儀和LabVIEW抖動分析工具包的更多信息。